双光路扫描成像系统                                                                         

双光源双探测四路成像系统可供用户灵活应对跨尺度跨密度样品的成像应用方案。 

灵活多变的扫描模式 

nanoVoxel3000系列拥有螺旋扫描、有限角度扫描、锥束扫描等多种灵活多变的扫描模式，配合相应先进的重建方法，可非破坏性的清晰还原高纵横比的PCB板和半导体封装电子器件等扁平状样品的内部结构，对产品质量做出有效评价，并大大节约测试时间，提高工作效率。

宽视场拼接扫描技术        

具有宽视场横向、纵向拼接模式，可实现两次扫描投影的拼接并自动完成图像重构，扩展成像视野，轻松实现了大尺度样品微纳米分辨率三维成像。

高精度气浮转台和纳米位移平台   

实现纳米级别的径跳/端跳误差和运动精度，确保测试过程中样品的稳定性，保证高清晰度的图像质量。同时具备样品移动自适应校正功能，有效减少因样品扫描过程中移动、变形等情况导致的重构效果不佳。